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2024-11-25
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ZJ-4BN型壓電壓電薄膜D31測試儀（靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量壓電材料的d33,D15塊體，D15圓管，D31薄膜系數(shù)常數(shù)而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。特別是薄膜D31系數(shù)采用拉伸懸梁臂法進行壓電常數(shù)測試，是一種新的測試方法，對于研究壓電材料和壓電PVDF薄膜有著重要意義，在材料生產(chǎn)和薄膜研究中有這要意義。 二、主要應用領(lǐng)
GWJDN-300高溫介電溫譜儀是一款專門用于評估電介質(zhì)材料高溫介電機制（材料極化、儲能、馳豫、相變、微結(jié)構(gòu)變化、分子團重新取向等）的重要測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)通過測量介電常數(shù)、介電損耗和阻抗、相位隨溫度、頻率變化的關(guān)系，直接得出電介質(zhì)材料的溫度譜、頻率譜、阻抗譜、Cole-Cole圖等重要的物理性能參數(shù)。高溫介電溫譜儀是科研實驗室新材料的開發(fā)和研究、生產(chǎn)質(zhì)量控制和生產(chǎn)工藝優(yōu)化的重要工具。
GWJDN-600A壓電材料高溫介電溫譜儀本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學性能測試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測試軟件于一體，可測試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機電耦合系數(shù)，等，同時可分析被測樣品隨溫度，頻率，時間變化的曲線，測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。 件可根據(jù)實驗方案設計，通過測量C和D值，自動完成介電常數(shù)和介電損耗
隨著固體粉末在化工、航天、醫(yī)藥、食品、塑料制品等行業(yè)越來越廣泛的應用，必然需要更多、更精確的以工藝過程控制、產(chǎn)品混合均勻度測試、物料含量檢測等為目的的儀器，以期優(yōu)化產(chǎn)品的過程控制、提高產(chǎn)品質(zhì)量，F(xiàn)WJD-600型粉末高溫介電溫譜儀是一款新型的高溫介電溫譜測試系統(tǒng)，
本測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的科學研究及近代物理實驗中的固體物理實驗以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測中，本測試系統(tǒng)主要由信號源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計算機通訊接口、計算機和應用軟件等部分組成。 模式測量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對測試
全自動ZKSJD-600型高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，可廣泛應用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。測溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測試的要求，同時高低溫阻抗。
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